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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第366位 102件
(2015年:第425位 82件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第337位 92件
(2015年:第402位 64件)
(ランキング更新日:2025年6月10日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2016-75962 | マイクロリソグラフィのための投影露光装置に使用するファセットミラー | 2016年 5月12日 | |
特表 2016-512615 | 拡大結像光学ユニット及びそのような結像光学ユニットを有するEUVマスク検査系 | 2016年 4月28日 | |
特表 2016-512647 | ガス混合物の質量分析試験のための方法および質量分析計 | 2016年 4月28日 | |
特表 2016-511440 | マスク検査システムのための照明光学ユニット及びそのような照明光学ユニットを有するマスク検査システム | 2016年 4月14日 | |
特表 2016-511441 | 投影リソグラフィのための照明光学ユニット | 2016年 4月14日 | |
特開 2016-53741 | マイクロリソグラフィ投影対物レンズ | 2016年 4月14日 | |
特表 2016-510425 | マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学系 | 2016年 4月 7日 | |
特表 2016-510141 | マイクロリソグラフィ装置 | 2016年 4月 4日 | |
特表 2016-510142 | 波面マニピュレータを有する投影レンズ | 2016年 4月 4日 | |
特表 2016-509687 | 偏光測定デバイス、リソグラフィ装置、測定構成体、及び偏光測定方法 | 2016年 3月31日 | |
特開 2016-42192 | マイクロリソグラフィのための投影対物系、投影露光装置、投影露光方法、及び光学補正プレート | 2016年 3月31日 | |
特表 2016-509259 | 投影露光装置に使用される出力ビームを発生させるためのEUV光源 | 2016年 3月24日 | |
特表 2016-509270 | EUVリソグラフィー用の光学素子及び光学系、及びこの光学系を処理する方法 | 2016年 3月24日 | |
特開 2016-35606 | マイクロリソグラフィ投影露光装置においてマスクを照明するための照明システム | 2016年 3月17日 | |
特表 2016-507900 | ビーム反転モジュールおよびそのようなビーム反転モジュールを有する光パワー増幅器 | 2016年 3月10日 |
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2016-75962 2016-512615 2016-512647 2016-511440 2016-511441 2016-53741 2016-510425 2016-510141 2016-510142 2016-509687 2016-42192 2016-509259 2016-509270 2016-35606 2016-507900
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6月16日(月) - 東京 大田
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6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月19日(木) - 大阪 大阪市
6月19日(木) -
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月20日(金) - 愛知 名古屋市
6月16日(月) - 東京 大田
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