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ケーエルエー−テンカー コーポレイション
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第363位 103件
（
2017年：第422位 98件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第358位 78件
（2017年：第472位 54件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ケーエルエー−テンカー コーポレイションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6261601 | リアルタイムで膜の歪みを割り出して欠陥寸法測定を行うための膜厚、屈折率、及び消衰係数の決定 | 2018年 1月17日 | |
| 特許 6261627 | 照射サブシステム | 2018年 1月17日 | |
| 特許 6257622 | ホウ素層を有するシリコン基板を含むフォトカソード | 2018年 1月10日 |
78 件中 76-78 件を表示
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6261601 6261627 6257622
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