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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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　■　2018年出願公開件数ランキング　　　第343位　103件（2017年：第370位　98件）

　■　2018年特許取得件数ランキング　　　第358位　78件（2017年：第472位　54件）

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6347791	傾斜面上でのスポットアレイ生成	2018年 6月27日
特許 6345125	ウェハおよびレチクル検査システムならびに照明瞳配置を選択するための方法	2018年 6月20日
特許 6342046	ビット不良および仮想検査を用いたウェハ検査プロセスの生成	2018年 6月13日
特許 6339067	直交下層ダミーフィルを有するオーバレイターゲット	2018年 6月 6日
特許 6333734	レーザ維持プラズマ光源におけるＶＵＶフィルタリングを提供するためのプラズマセル	2018年 5月30日
特許 6328063	処理済像を使用するレチクル検査時の選択的感度のための細線の検出	2018年 5月23日
特許 6329209	設計ベースデバイスリスク評価	2018年 5月23日
特許 6328225	光電子増倍管（ＰＭＴ）、イメージセンサ、及びＰＭＴ又はイメージセンサを用いた検査システム	2018年 5月23日
特許 6328106	反射電子ビームリソグラフィのためのリニアステージ及び計測アーキテクチャ	2018年 5月23日
特許 6328055	ＥＢＣＣＤ、ＥＢＣＣＤを操作させる方法、暗視野検査システム、検査方法および検査システム	2018年 5月23日
特許 6325518	ＥＵＶレチクル検査ツールにおけるレチクルの取り扱い装置及び方法	2018年 5月16日
特許 6324963	固体照射光源及び検査システム	2018年 5月16日
特許 6324398	不偏ウェハの欠陥サンプル	2018年 5月16日
特許 6324071	ＥＵＶ結像のための装置およびその装置を用いた方法	2018年 5月16日
特許 6322141	変調光源を備える光学計測ツール	2018年 5月 9日

78 件中 31-45 件を表示

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6347791 6345125 6342046 6339067 6333734 6328063 6329209 6328225 6328106 6328055 6325518 6324963 6324398 6324071 6322141

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