特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2018年出願公開件数ランキング　　　第363位　103件（2017年：第422位　98件）

　■　2018年特許取得件数ランキング　　　第358位　78件（2017年：第472位　54件）

（ランキング更新日：2025年10月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6395793	半導体装置レシピ管理システム	2018年 9月26日
特許 6385443	ＳＥＭにおける向上した試料アクセスのためのノッチ付き磁気レンズ	2018年 9月 5日
特許 6386479	光計測において照明を提供するためのシステム	2018年 9月 5日
特許 6381538	高アスペクト比及び大きい横方向寸法の構造体のための計測システム及び方法	2018年 8月29日
特許 6382417	安定性が向上されたＣＷ　ＤＵＶレーザー	2018年 8月29日
特許 6379206	再利用可能な下位構造を含む半導体デバイスモデル	2018年 8月22日
特許 6373858	向上された非線形結晶性能のための共振キャビティ調整法	2018年 8月15日
特許 6373986	液体検査用低コントラストの標準として使用される粒子懸濁液	2018年 8月15日
特許 6374871	欠陥特定情報を用いるウェハ上の欠陥の検出	2018年 8月15日
特許 6367294	検査装置、コンピュータ装置および検査方法	2018年 8月 1日
特許 6368644	熱負荷に曝されるスピンドル、ステージ、または部品の受動的位置補償	2018年 8月 1日
特許 6364036	検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法	2018年 7月25日
特許 6360845	検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法	2018年 7月18日
特許 6353831	角度分解反射率測定における走査および回折の光計測からのアルゴリズム的除去	2018年 7月 4日
特許 6347791	傾斜面上でのスポットアレイ生成	2018年 6月27日

78 件中 16-30 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

6395793 6385443 6386479 6381538 6382417 6379206 6373858 6373986 6374871 6367294 6368644 6364036 6360845 6353831 6347791

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数