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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第296位 118件
(2021年:第424位 82件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第335位 90件
(2021年:第239位 120件)
(ランキング更新日:2025年6月10日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2022-505064 | テレセントリック照明を有するマルチビーム電子特性評価ツール | 2022年 1月14日 | |
特表 2022-505116 | 透明フィルムの頂面での正確な光トポグラフィ測定のための除去可能な不透明コーティング | 2022年 1月14日 | |
特表 2022-505120 | スキャトロメトリオーバレイのための効率的な照明成形 | 2022年 1月14日 | |
特表 2022-505801 | 画像フレームに基づくアルゴリズムセレクタ | 2022年 1月14日 | |
特表 2022-504419 | 画素アライメントのための補正ループを使用する欠陥位置判定 | 2022年 1月13日 | |
特表 2022-504505 | 半導体基板の限界寸法測定のための深層学習ベースの適応関心領域 | 2022年 1月13日 | |
特表 2022-504617 | マルチ電子ビームシステム用偏向アレイ装置 | 2022年 1月13日 | |
特表 2022-503371 | 結像系設計における微分干渉コントラストの走査 | 2022年 1月12日 | |
特表 2022-502676 | 多波長インタフェロメトリによる欠陥分類 | 2022年 1月11日 | |
特表 2022-502838 | 埋もれた欠陥の特性付けのためのシステムおよび方法 | 2022年 1月11日 | |
特表 2022-502839 | 極紫外線フォトマスク上で検出される欠陥の処理 | 2022年 1月11日 | |
特表 2022-501576 | デバイスオーバレイ誤差低減 | 2022年 1月 6日 | |
特表 2022-501772 | 金属封入光電陰極電子エミッタ | 2022年 1月 6日 |
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2022-505064 2022-505116 2022-505120 2022-505801 2022-504419 2022-504505 2022-504617 2022-503371 2022-502676 2022-502838 2022-502839 2022-501576 2022-501772
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6月12日(木) -
6月12日(木) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月16日(月) - 東京 大田
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月19日(木) -
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月20日(金) - 愛知 名古屋市
6月16日(月) - 東京 大田
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