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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2022-540105	光学ガラス材料としての四ホウ酸ストロンチウム	2022年 9月14日
特表 2022-540130	光学的表面欠陥物質特性評価のための方法およびシステム	2022年 9月14日
特表 2022-539321	位置ずれの測定およびその改善のための関心領域の選択	2022年 9月 8日
特表 2022-537988	光源のキャビティの圧力制御	2022年 8月31日
特表 2022-537342	テスト用フォトマスクを用いるＴＤＩイメージセンサ向けＥＵＶインサイチュー直線性校正	2022年 8月25日
特表 2022-537379	マルチステージマルチゾーン基板位置決めシステム	2022年 8月25日
特表 2022-536953	非対称ウエハ形状特徴付けのためのメトリック	2022年 8月22日
特開 2022-121502	拡張赤外分光エリプソメトリ方法	2022年 8月19日
特表 2022-536644	洗浄基板によるインシトゥプロセスチャンバチャック洗浄	2022年 8月18日
特開 2022-119894	半導体試料内の瑕疵を検出又は精査するシステム	2022年 8月17日
特表 2022-535824	極端紫外マスク検査システムの波面収差計量	2022年 8月10日
特表 2022-535399	光学システム内の光の１つ又は複数の特性の決定	2022年 8月 8日
特開 2022-113724	測定ウェハ装置	2022年 8月 4日
特表 2022-535068	広帯域紫外照明源	2022年 8月 4日
特表 2022-535149	データ駆動型ミスレジストレーションパラメータ設定および測定システムおよび方法	2022年 8月 4日

118 件中 31-45 件を表示

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2022-540105 2022-540130 2022-539321 2022-537988 2022-537342 2022-537379 2022-536953 2022-121502 2022-536644 2022-119894 2022-535824 2022-535399 2022-113724 2022-535068 2022-535149

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