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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2022-523054	高アスペクト比構造の測定のための中赤外分光法	2022年 4月21日
特開 2022-60309	照明源及びプラズマ光源	2022年 4月14日
特開 2022-58874	電子ビームシステム及び方法	2022年 4月12日
特開 2022-58942	電子光学システム	2022年 4月12日
特表 2022-521489	空間的に変化する偏光回転子および偏光子を用いた高感度粒子検出	2022年 4月 8日
特表 2022-521490	結合された光および電子ビーム技術を使用する位置ずれ測定	2022年 4月 8日
特表 2022-521190	紫外及び可視波長のプラズモニックフォトカソードエミッタ	2022年 4月 6日
特表 2022-520956	真空チャンバ内への光ファイバ使用光送給	2022年 4月 4日
特表 2022-520971	光散乱に基づく光学器械および器具に対する空気散乱基準	2022年 4月 4日
特表 2022-518225	所望しない回折次数の存在下でのスキャトロメトリモデル化	2022年 3月14日
特表 2022-517067	非円形瞳を有する検査システム	2022年 3月 4日
特開 2022-33129	変調光源を備える光学計測ツール	2022年 2月28日
特表 2022-516292	ＥＵＶ光学系用硼素ベースキャッピング層	2022年 2月25日
特開 2022-29462	空間選択的波長フィルタにより修正された光源を用いて試料を撮像するためのシステム及び方法並びに紫外線光源	2022年 2月17日
特表 2022-514365	オーバーレイターゲットを用いるフィールド間補正	2022年 2月10日

118 件中 76-90 件を表示

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2022-523054 2022-60309 2022-58874 2022-58942 2022-521489 2022-521490 2022-521190 2022-520956 2022-520971 2022-518225 2022-517067 2022-33129 2022-516292 2022-29462 2022-514365

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