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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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　■　2022年特許取得件数ランキング　　　第335位　90件（2021年：第239位　120件）

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2022-527829	設定可能焦点オフセットによって試料表面を追跡するための自動焦点調節システム	2022年 6月 6日
特開 2022-81498	高さ計測装置及び方法	2022年 5月31日
特表 2022-527217	接地されたサンプル近接静電容量センサを有する検査システム	2022年 5月31日
特表 2022-526933	改善された計量用自己モアレ格子デザイン	2022年 5月27日
特表 2022-526994	Ｚ高さの絶対値を利用したツール間の相乗効果	2022年 5月27日
特開 2022-79538	多入射角半導体計測システム及び方法	2022年 5月26日
特表 2022-526748	半導体デバイスにおけるパラメタ安定位置ずれ計測改善	2022年 5月26日
特表 2022-526625	確率的レチクル欠陥処理	2022年 5月25日
特表 2022-525620	光学分散の多次元モデル	2022年 5月18日
特表 2022-525655	背表面粗さを前側オーバレイに変換するシステム及び方法	2022年 5月18日
特表 2022-525123	半導体処理装置における希ガスの収集とリサイクル	2022年 5月11日
特開 2022-65040	測定方法	2022年 4月26日
特表 2022-523692	プロセス変動に対する計量感度を定量するためのスケーリング指標	2022年 4月26日
特表 2022-523492	モアレターゲット及びそれを用い半導体デバイスの位置ずれを計測する方法	2022年 4月25日
特表 2022-523033	共配置計量方法及びシステム	2022年 4月21日

118 件中 61-75 件を表示

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2022-527829 2022-81498 2022-527217 2022-526933 2022-526994 2022-79538 2022-526748 2022-526625 2022-525620 2022-525655 2022-525123 2022-65040 2022-523692 2022-523492 2022-523033

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