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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第273位 126件
（
2023年：第263位 136件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第83位 368件
（
2023年：第87位 361件）
（ランキング更新日：2026年5月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2024-157224 | ステージ装置 | 2024年11月 7日 | |
| 特開 2024-152267 | イオン源、円形加速器、及び粒子線治療システム | 2024年10月25日 | |
| 特開 2024-151254 | 採血装置及び方法 | 2024年10月24日 | |
| 特開 2024-150622 | 画像を生成するシステム、及び非一時的コンピュータ可読媒体 | 2024年10月23日 | |
| 特表 2024-538559 | 分析システムおよび方法 | 2024年10月23日 | |
| 特開 2024-148195 | 試料分析装置 | 2024年10月18日 | |
| 特開 2024-148087 | イオン源、加速器および粒子線治療システム | 2024年10月17日 | |
| 特開 2024-147118 | プローブ位置検出装置及び自動分析装置 | 2024年10月16日 | |
| 特開 2024-143128 | スペクトル解析装置、スペクトル解析システムおよびスペクトル解析方法 | 2024年10月11日 | |
| 特開 2024-141089 | 線量分布計算システム、プログラム及び線量分布計算方法 | 2024年10月10日 | |
| 特開 2024-138743 | 分析装置、判定方法、及び予測方法 | 2024年10月 9日 | |
| 特開 2024-139055 | 情報処理システム、情報処理方法 | 2024年10月 9日 | |
| 特開 2024-137097 | イオン源、これを備えた質量分析装置およびイオンの生成方法 | 2024年10月 7日 | |
| 特開 2024-135713 | パラメータ確認装置、治療計画検証装置、治療計画装置及び放射線治療システム、並びにプログラム、パラメータ確認方法 | 2024年10月 4日 | |
| 特開 2024-136910 | 運動解析システム | 2024年10月 4日 |
132 件中 31-45 件を表示
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2024-157224 2024-152267 2024-151254 2024-150622 2024-538559 2024-148195 2024-148087 2024-147118 2024-143128 2024-141089 2024-138743 2024-139055 2024-137097 2024-135713 2024-136910
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