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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第952位 23件
（
2023年：第1639位 14件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第1131位 17件
（
2023年：第621位 41件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2024-42215 | Ｘ線分析装置およびＸ線分析方法 | 2024年 3月28日 | |
| 特開 2024-32803 | 試料片移設装置 | 2024年 3月12日 | |
| 特開 2024-12633 | オートサンプラの制御装置及びそれを含む自動測定システム | 2024年 1月30日 | |
| 特開 2024-12219 | 試料容器およびこれを用いた動的粘弾性測定装置 | 2024年 1月26日 | |
| 特開 2024-9542 | 分光分析システム及び分光分析方法 | 2024年 1月23日 | |
| 特開 2024-2445 | クロマトグラフ装置 | 2024年 1月11日 | |
| 特開 2024-1708 | 流動試料用試料セル及びこれを用いた蛍光Ｘ線分析装置並びに蛍光Ｘ線分析方法 | 2024年 1月10日 | |
| 特開 2024-1781 | 液体クロマトグラフ装置、およびその制御方法。 | 2024年 1月10日 |
23 件中 16-23 件を表示
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2024-42215 2024-32803 2024-12633 2024-12219 2024-9542 2024-2445 2024-1708 2024-1781
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