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東京エレクトロン株式会社
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第43位 773件
（
2019年：第58位 660件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第54位 436件
（2019年：第58位 415件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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東京エレクトロン株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-113697 | 状態判定方法、状態判定装置、及び記憶媒体 | 2020年 7月27日 | |
| 特開 2020-113701 | チャックトップ、検査装置、およびチャックトップの回収方法 | 2020年 7月27日 | |
| 特開 2020-113743 | 窒化膜の成膜方法、および窒化膜の成膜装置 | 2020年 7月27日 | |
| 特開 2020-113746 | 処理装置 | 2020年 7月27日 | |
| 特開 2020-113752 | プラズマ処理装置 | 2020年 7月27日 | |
| 特開 2020-113753 | プラズマ処理装置及びエッチング方法 | 2020年 7月27日 | |
| 特開 2020-113759 | 処理方法及びプラズマ処理装置 | 2020年 7月27日 | |
| 特開 2020-113795 | エッチング方法およびエッチング装置 | 2020年 7月27日 | |
| 特開 2020-109838 | プラズマ処理装置及び制御方法 | 2020年 7月16日 | |
| 特開 2020-109855 | 半導体システム及びデータ編集支援方法 | 2020年 7月16日 | |
| 特開 2020-105555 | 成膜装置及び方法 | 2020年 7月 9日 | |
| 特開 2020-105591 | ＲｕＳｉ膜の形成方法及び成膜装置 | 2020年 7月 9日 | |
| 特開 2020-106388 | 検査装置および検査方法 | 2020年 7月 9日 | |
| 特開 2020-106454 | 温度測定部材、検査装置及び温度測定方法 | 2020年 7月 9日 | |
| 特開 2020-106497 | 抵抗測定治具及び抵抗測定治具の切替方法 | 2020年 7月 9日 |
777 件中 361-375 件を表示
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2020-113697 2020-113701 2020-113743 2020-113746 2020-113752 2020-113753 2020-113759 2020-113795 2020-109838 2020-109855 2020-105555 2020-105591 2020-106388 2020-106454 2020-106497
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