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東京エレクトロン株式会社

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東京エレクトロン株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
再表 2019-244853	細胞のゲノム異常の評価方法	2021年 7月 8日
再表 2020-3803	成膜方法、成膜システム、及び成膜装置	2021年 7月 8日
特開 2021-100777	基板処理装置、および基板処理方法	2021年 7月 8日
特開 2021-101459	成膜方法	2021年 7月 8日
再表 2019-225519	プラズマ処理装置	2021年 7月 1日
再表 2019-244782	基板処理装置、基板処理方法、及び記憶媒体	2021年 7月 1日
特開 2021-100044	プラズマ処理装置	2021年 7月 1日
特開 2021-100071	基板処理装置及び基板処理方法	2021年 7月 1日
特開 2021-100093	エッチング方法、基板処理装置、及び基板処理システム	2021年 7月 1日
再表 2019-235256	半導体装置の製造方法、成膜用組成物および成膜装置	2021年 6月24日
再表 2020-4047	基板洗浄方法、基板洗浄システムおよび記憶媒体	2021年 6月24日
再表 2020-4142	膜厚測定装置及び補正方法	2021年 6月24日
再表 2020-12959	基板処理方法および基板処理装置	2021年 6月24日
特開 2021-96934	プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法	2021年 6月24日
特開 2021-96961	減圧乾燥装置および減圧乾燥方法	2021年 6月24日

882 件中 451-465 件を表示

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2019-244853 2020-3803 2021-100777 2021-101459 2019-225519 2019-244782 2021-100044 2021-100071 2021-100093 2019-235256 2020-4047 2020-4142 2020-12959 2021-96934 2021-96961

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