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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第35位 575件
(
2024年:第27位 725件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第20位 761件
(
2024年:第25位 802件)
(ランキング更新日:2025年11月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7730795 | プラズマ処理装置及び検出方法 | 2025年 8月28日 | |
| 特許 7730985 | 塗布処理方法、記憶媒体、及び塗布処理装置 | 2025年 8月28日 | |
| 特許 7731001 | 基板処理装置、基板処理方法、及び基板処理プログラム | 2025年 8月28日 | |
| 特許 7729705 | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 | 2025年 8月26日 | |
| 特許 7729706 | 温度校正システム、検査装置および温度校正方法 | 2025年 8月26日 | |
| 特許 7728865 | クリーニング方法およびプラズマ処理方法 | 2025年 8月25日 | |
| 特許 7728939 | 載置台 | 2025年 8月25日 | |
| 特許 7728062 | 処理システム及び搬送方法 | 2025年 8月22日 | |
| 特許 7728103 | 基板処理装置および基板処理方法 | 2025年 8月22日 | |
| 特許 7728227 | 基板処理方法及び基板処理装置 | 2025年 8月22日 | |
| 特許 7728376 | プラズマ処理装置および基板処理装置 | 2025年 8月22日 | |
| 特許 7728419 | 載置台及び基板処理装置 | 2025年 8月22日 | |
| 特許 7727163 | 超臨界流体計測のためのラマンセンサ | 2025年 8月21日 | |
| 特許 7727361 | 同軸透視検査システム | 2025年 8月21日 | |
| 特許 7727429 | 基板処理方法、基板処理装置、および記憶媒体 | 2025年 8月21日 |
769 件中 181-195 件を表示
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7730795 7730985 7731001 7729705 7729706 7728865 7728939 7728062 7728103 7728227 7728376 7728419 7727163 7727361 7727429
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