日本電子株式会社
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7105261 | オージェ電子分光装置および分析方法 | 2022年 7月22日 | |
| 特許 7105271 | 荷電粒子線装置 | 2022年 7月22日 | |
| 特許 7096071 | 荷電粒子ビーム描画方法および荷電粒子ビーム描画装置 | 2022年 7月 5日 | |
| 特許 7096174 | 組成推定装置及び方法 | 2022年 7月 5日 | |
| 特許 7088507 | 結晶構造解析システム及び結晶構造解析方法 | 2022年 6月21日 | |
| 特許 7083629 | 定量分析方法および電子顕微鏡 | 2022年 6月13日 | |
| 特許 7083799 | 標準較正液 | 2022年 6月13日 | |
| 特許 7083856 | 高さ測定装置、荷電粒子線装置、および高さ測定方法 | 2022年 6月13日 | |
| 特許 7083869 | 画像処理方法および画像処理装置 | 2022年 6月13日 | |
| 特許 7075601 | 分析方法および分析装置 | 2022年 5月26日 | |
| 特許 7072800 | 核磁気共鳴測定装置及び方法 | 2022年 5月23日 | |
| 特許 7073423 | 質量分析装置 | 2022年 5月23日 | |
| 特許 7073438 | 自動分析装置および自動分析装置の制御方法 | 2022年 5月23日 | |
| 特許 7064894 | マススペクトル処理装置及び方法 | 2022年 5月11日 | |
| 特許 7065137 | ＮＭＲ測定システム及び試料管センタリング方法 | 2022年 5月11日 |
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7105261 7105271 7096071 7096174 7088507 7083629 7083799 7083856 7083869 7075601 7072800 7073423 7073438 7064894 7065137
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