日本電子株式会社
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第372位 91件
（
2021年：第446位 77件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第298位 101件
（
2021年：第250位 116件）
（ランキング更新日：2025年3月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7167112 | マススペクトル処理装置及び方法 | 2022年11月 8日 | |
| 特許 7160664 | 画像処理方法および画像処理システム | 2022年10月25日 | |
| 特許 7160857 | ビーム調整方法及び三次元積層造形装置 | 2022年10月25日 | |
| 特許 7160868 | イオンミリング装置および試料作製方法 | 2022年10月25日 | |
| 特許 7160869 | 試料支持具、支持機器、および試料作製方法 | 2022年10月25日 | |
| 特許 7160870 | 荷電粒子線装置及び設定支援方法 | 2022年10月25日 | |
| 特許 7160871 | 荷電粒子線装置及び設定支援方法 | 2022年10月25日 | |
| 特許 7144266 | 電子顕微鏡 | 2022年 9月29日 | |
| 特許 7144302 | マススペクトル解析装置及び方法 | 2022年 9月29日 | |
| 特許 7144307 | 間接加熱蒸着源 | 2022年 9月29日 | |
| 特許 7144475 | 分析方法および分析装置 | 2022年 9月29日 | |
| 特許 7144485 | 像取得方法および電子顕微鏡 | 2022年 9月29日 | |
| 特許 7144487 | 荷電粒子線装置および試料ステージの制御方法 | 2022年 9月29日 | |
| 特許 7126914 | 電子顕微鏡装置、電子顕微鏡装置の制御方法 | 2022年 8月29日 | |
| 特許 7126928 | 表面分析装置および表面分析方法 | 2022年 8月29日 |
105 件中 16-30 件を表示
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7167112 7160664 7160857 7160868 7160869 7160870 7160871 7144266 7144302 7144307 7144475 7144485 7144487 7126914 7126928
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