日本電子株式会社
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7018297 | スペクトル解析装置及び方法 | 2022年 2月10日 | |
| 特許 7018321 | スペクトル処理装置及び方法 | 2022年 2月10日 | |
| 特許 7018364 | マススペクトル処理装置及び方法 | 2022年 2月10日 | |
| 特許 7018365 | 荷電粒子線装置および分析方法 | 2022年 2月10日 | |
| 特許 7018418 | 電子銃、電子顕微鏡、３次元積層造形装置、及び電子銃の電流調整方法 | 2022年 2月10日 | |
| 特許 7018422 | マススペクトル処理装置及び方法 | 2022年 2月10日 | |
| 特許 7008519 | 荷電粒子線装置 | 2022年 1月25日 | |
| 特許 7008550 | インターフェース、およびガスクロマトグラフ質量分析装置 | 2022年 1月25日 | |
| 特許 7008598 | 電子銃および電子線装置 | 2022年 1月25日 | |
| 特許 7008650 | 荷電粒子線システム及び走査電子顕微鏡を用いた試料測定方法 | 2022年 1月25日 | |
| 特許 7008669 | ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法 | 2022年 1月25日 | |
| 特許 7008671 | 荷電粒子線装置および分析方法 | 2022年 1月25日 | |
| 特許 7008675 | 荷電粒子線装置用冷却装置 | 2022年 1月25日 | |
| 特許 7008744 | 自動分析装置および自動分析装置の制御方法 | 2022年 1月25日 | |
| 特許 6994897 | 電子顕微鏡および試料傾斜角の調整方法 | 2022年 1月14日 |
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7018297 7018321 7018364 7018365 7018418 7018422 7008519 7008550 7008598 7008650 7008669 7008671 7008675 7008744 6994897
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