日本電子株式会社
※ ログインすれば出願人(日本電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2022年 出願公開件数ランキング 第372位 91件
（
2021年：第446位 77件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第298位 101件
（
2021年：第250位 116件）
（ランキング更新日：2025年3月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2023年 2024年 2025年
日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7054616 | 自動分析装置 | 2022年 4月14日 | |
| 特許 7054620 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2022年 4月14日 | |
| 特許 7054633 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡の制御方法 | 2022年 4月14日 | |
| 特許 7054647 | 分注ユニット及び自動分析装置 | 2022年 4月14日 | |
| 特許 7054660 | フィラメント回路及び電子顕微鏡 | 2022年 4月14日 | |
| 特許 7054663 | 高周波誘導熱プラズマ装置 | 2022年 4月14日 | |
| 特許 7054711 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の調整方法 | 2022年 4月14日 | |
| 特許 7054717 | 分析方法および蛍光Ｘ線分析装置 | 2022年 4月14日 | |
| 特許 7029933 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡の制御方法 | 2022年 3月 4日 | |
| 特許 7029979 | 温度制御装置、温度制御方法、および荷電粒子線装置 | 2022年 3月 4日 | |
| 特許 7029988 | 自動分析装置 | 2022年 3月 4日 | |
| 特許 7030002 | 電子銃 | 2022年 3月 4日 | |
| 特許 7030035 | 元素分布のムラの評価方法および荷電粒子線装置 | 2022年 3月 4日 | |
| 特許 7030077 | Ｘ線分析装置 | 2022年 3月 4日 | |
| 特許 7030089 | インプットレンズおよび電子分光装置 | 2022年 3月 4日 |
105 件中 61-75 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
7054616 7054620 7054633 7054647 7054660 7054663 7054711 7054717 7029933 7029979 7029988 7030002 7030035 7030077 7030089
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日本電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
3月26日(水) - 東京 港区
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) - 東京 港区
4月1日(火) - 山口 山口市
4月1日(火) -
4月2日(水) -
4月2日(水) -
4月4日(金) -
4月1日(火) - 山口 山口市
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
東京都千代田区岩本町2-19-9 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒567-0883 大阪府茨木市大手町2番6号 丸吉ビル202号 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒445-0802 愛知県西尾市米津町蓮台６－１０ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
