日本電子株式会社
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第372位 91件
（
2021年：第446位 77件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第298位 101件
（
2021年：第250位 116件）
（ランキング更新日：2025年3月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6994903 | 電子スピン共鳴測定装置及び方法 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6994921 | 質量分析データ処理装置および質量分析データ処理方法 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6994931 | 蛍光Ｘ線分析装置および分析方法 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6994959 | 容器収容ユニット及び自動分析装置 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6994961 | マススペクトル処理装置及び方法 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6994972 | 電子顕微鏡 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6995024 | 分析装置 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6995026 | 荷電粒子線装置および制御方法 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6995085 | 自動分析装置及び自動分析装置の制御方法 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6995088 | 試料支持体および試料支持体の製造方法 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6995090 | 自動分析装置および自動分析装置の制御方法 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6995093 | 試料プレートホルダ | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6995098 | 試料チップ作業台及びリテーナ | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6995099 | 試料取付装置 | 2022年 1月14日 | |
| 特許 6995103 | 透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡の制御方法 | 2022年 1月14日 |
105 件中 91-105 件を表示
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6994903 6994921 6994931 6994959 6994961 6994972 6995024 6995026 6995085 6995088 6995090 6995093 6995098 6995099 6995103
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