日本電子株式会社
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第372位 91件
（
2021年：第446位 77件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第298位 101件
（
2021年：第250位 116件）
（ランキング更新日：2025年3月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7126932 | 自動分析装置 | 2022年 8月29日 | |
| 特許 7126960 | 電子顕微鏡 | 2022年 8月29日 | |
| 特許 7127009 | 質量分析装置 | 2022年 8月29日 | |
| 特許 7127087 | 透過電子顕微鏡および対物絞りの調整方法 | 2022年 8月29日 | |
| 特許 7127088 | 荷電粒子線装置及び設定支援方法 | 2022年 8月29日 | |
| 特許 7127089 | 荷電粒子線装置及び設定支援方法 | 2022年 8月29日 | |
| 特許 7114406 | 電子スピン共鳴測定装置及び方法 | 2022年 8月 8日 | |
| 特許 7114417 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡の調整方法 | 2022年 8月 8日 | |
| 特許 7114425 | 電子スピン共鳴測定装置及びその調整方法 | 2022年 8月 8日 | |
| 特許 7114426 | 荷電粒子線装置 | 2022年 8月 8日 | |
| 特許 7114527 | 組成推定装置及び方法 | 2022年 8月 8日 | |
| 特許 7111310 | 核磁気共鳴測定方法及び装置 | 2022年 8月 2日 | |
| 特許 7105043 | 容器供給ユニット及び自動分析装置 | 2022年 7月22日 | |
| 特許 7105049 | 質量分析データ処理装置、及び質量分析データ処理方法 | 2022年 7月22日 | |
| 特許 7105112 | 分注ユニット、自動分析装置及び液面検出判定方法 | 2022年 7月22日 |
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7126932 7126960 7127009 7127087 7127088 7127089 7114406 7114417 7114425 7114426 7114527 7111310 7105043 7105049 7105112
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