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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第424位 82件
(2020年:第364位 101件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第239位 120件
(2020年:第314位 86件)
(ランキング更新日:2025年8月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6947831 | 電子源のための引出し器電極 | 2021年10月13日 | |
特許 6944439 | 低ノイズセンサを用いた暗視野検査 | 2021年10月 6日 | |
特許 6944460 | 高温処理アプリケーションにおける計測パラメタ獲得用の計装基板装置 | 2021年10月 6日 | |
特許 6941103 | 半導体用途のための機械学習ベースのモデルの加速トレーニング | 2021年 9月29日 | |
特許 6941106 | マルチビーム検査システム用像面湾曲補正 | 2021年 9月29日 | |
特許 6941169 | 全測定不確かさの定量化および低減 | 2021年 9月29日 | |
特許 6941176 | 製品製造中のプロセス変動の識別 | 2021年 9月29日 | |
特許 6942709 | マルチビームツールを用いた後方散乱電子(BSE)イメージング | 2021年 9月29日 | |
特許 6938529 | 電子ビーム式特性解明ツールを対象としたドリフト補償システム及び方法 | 2021年 9月22日 | |
特許 6934879 | ハイパースペクトルイメージング計量システム及び方法 | 2021年 9月15日 | |
特許 6934944 | 弱パターン定量方法及びシステム | 2021年 9月15日 | |
特許 6934980 | 走査型電子顕微鏡装置 | 2021年 9月15日 | |
特許 6932174 | 半導体デバイスの検査または計測を実行するための光学装置及び方法 | 2021年 9月 8日 | |
特許 6929772 | ワークピース欠陥検出用の装置及び方法 | 2021年 9月 1日 | |
特許 6929842 | レーザ生成プラズマ光源向けのドロップレット生成装置 | 2021年 9月 1日 |
120 件中 16-30 件を表示
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6947831 6944439 6944460 6941103 6941106 6941169 6941176 6942709 6938529 6934879 6934944 6934980 6932174 6929772 6929842
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