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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第424位 82件
(2020年:第364位 101件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第239位 120件
(2020年:第314位 86件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6864738 | デフォーカス検出方法 | 2021年 4月28日 | |
特許 6864752 | 非ゼロオフセット予測を伴うオーバレイ制御 | 2021年 4月28日 | |
特許 6866460 | 光計測において照明を提供するためのシステム | 2021年 4月28日 | |
特許 6860691 | ルテニウム被覆を有する電子ビーム放出器 | 2021年 4月21日 | |
特許 6861211 | 効率的な計測のために信号を高速自動判定するシステム、方法、およびコンピュータプログラム製品 | 2021年 4月21日 | |
特許 6861258 | 広帯域光源 | 2021年 4月21日 | |
特許 6864122 | レシピ最適化及び計測のためのゾーナル分析 | 2021年 4月21日 | |
特許 6857186 | 改善されたスポットサイズ能力を有する単波長エリプソメトリー | 2021年 4月14日 | |
特許 6857620 | 反復的欠陥分類方法及びシステム | 2021年 4月14日 | |
特許 6858192 | 拡張赤外分光エリプソメトリシステム及び方法 | 2021年 4月14日 | |
特許 6854278 | ウェハエッジ検査及びレビュー方法及びシステム | 2021年 4月 7日 | |
特許 6850332 | イメージングシステム | 2021年 3月31日 | |
特許 6853273 | ニューラルネットワークと順物理モデルを半導体用途に組み込んだシステムおよび方法 | 2021年 3月31日 | |
特許 6853276 | 同時多角度分光法及びシステム | 2021年 3月31日 | |
特許 6846441 | 物体の表面の光学的三次元トポグラフィ計測システム | 2021年 3月24日 |
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6864738 6864752 6866460 6860691 6861211 6861258 6864122 6857186 6857620 6858192 6854278 6850332 6853273 6853276 6846441
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2月22日(土) - 東京 板橋区
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2月25日(火) -
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2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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