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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6904943	半導体マスク検査のためのポリゴンベースの幾何学的分類	2021年 7月21日
特許 6906044	感度改善およびニューサンス抑制のため、論理的およびホットスポット検査でｚレイヤコンテキストを使用するシステムおよび方法	2021年 7月21日
特許 6906050	メトロロジー測定に用いるためのプログラムされた欠陥を生成する方法およびシステム	2021年 7月21日
特許 6906292	パターン援用補正を用いる局所的位相アンラッピングの方法とシステム	2021年 7月21日
特許 6906614	欠陥材料分類のためのシステムおよび方法	2021年 7月21日
特許 6906630	小角Ｘ線スキャタロメトリ用Ｘ線ズームレンズ	2021年 7月21日
特許 6907257	電子ビーム装置	2021年 7月21日
特許 6901565	画像融合のための畳込みニューラルネットワークベースのモード選択および欠陥分類	2021年 7月14日
特許 6898501	ウェーハ欠陥検出システム及び方法	2021年 7月 7日
特許 6898871	マルチパターニング工程オーバレイ誤差の特定	2021年 7月 7日
特許 6894457	標的設計及び製造における誘導自己組織化方法	2021年 6月30日
特許 6892921	小角Ｘ線スキャトロメトリベースの計測システムの較正	2021年 6月23日
特許 6893514	ハイブリッドインスペクタ	2021年 6月23日
特許 6893549	高次元変数選択モデルを使用した重要なパラメータの決定システム	2021年 6月23日
特許 6891261	ナノ構造の反射防止層を有する光源、装置、及び方法	2021年 6月18日

120 件中 46-60 件を表示

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6904943 6906044 6906050 6906292 6906614 6906630 6907257 6901565 6898501 6898871 6894457 6892921 6893514 6893549 6891261

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