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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6931084	光学検査結果に発する計量案内型検査サンプルシェイピング	2021年 9月 1日
特許 6924261	パターニングされたウェハの特性評価のためのハイブリッド計量	2021年 8月25日
特許 6920357	高温プロセスアプリケーションにおいて測定パラメータを取得するためのカプセル化された計装基板装置	2021年 8月18日
特許 6920518	走査電子顕微鏡検査装置及び方法	2021年 8月18日
特許 6921108	高輝度レーザ維持プラズマ広帯域輻射源	2021年 8月18日
特許 6921173	光源持続プラズマセルにおける収差を補正するための装置及び方法	2021年 8月18日
特許 6921852	広帯域光源のスペクトルチューニングシステム及び方法	2021年 8月18日
特許 6916877	貼り合わせウエハの計測	2021年 8月11日
特許 6916886	分光組成分析のためのウェハ粒子欠陥の活性化	2021年 8月11日
特許 6916937	光維持プラズマ形成によって広帯域光を生成する光学システム	2021年 8月11日
特許 6917462	ウェハ形状測定方法及びシステム	2021年 8月11日
特許 6917992	傾斜吸収フィーチャを有するレーザ維持プラズマ光源	2021年 8月11日
特許 6918931	半導体ウエハ検査のための欠陥マーキング	2021年 8月11日
特許 6912495	デュアルカラムパラレルＣＣＤセンサおよびセンサを用いた検査システム	2021年 8月 4日
特許 6914249	自発的計測法及びパターン分類	2021年 8月 4日

120 件中 31-45 件を表示

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6931084 6924261 6920357 6920518 6921108 6921173 6921852 6916877 6916886 6916937 6917462 6917992 6918931 6912495 6914249

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