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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6879939	オーバレイ計測用トポグラフィック位相制御	2021年 6月 2日
特許 6879950	出力スケーリング可能な非線形光波長コンバータ	2021年 6月 2日
特許 6882209	半導体ウェハ上の高さを測定するための方法および装置	2021年 6月 2日
特許 6875483	計測標的の偏光測定及び対応する標的設計	2021年 5月26日
特許 6876055	マルチビーム走査型電子顕微鏡におけるノイズ緩和方法及びシステム	2021年 5月26日
特許 6876721	半導体構造体の気孔率測定	2021年 5月26日
特許 6876754	ウェハ検査システム	2021年 5月26日
特許 6877462	チューナビリティ用非磁性金属部分が組み込まれた永久磁石粒子ビーム装置及び方法	2021年 5月26日
特許 6877541	一体型メトロロジツールを有する機能性が強化されたリソグラフィシステム	2021年 5月26日
特許 6878553	半導体ウェハ検査及び計量システム及び方法	2021年 5月26日
特許 6873129	領域適応的欠陥検出を行うシステムおよび方法	2021年 5月19日
特許 6869944	レーザ暗視野システムにおけるスペックル抑圧方法及び装置	2021年 5月12日
特許 6870129	試料の欠陥検出及び光ルミネセンス測定のためのシステム及び方法	2021年 5月12日
特許 6864695	デザインファイルまたは検査画像を用いた自動デスキュー	2021年 4月28日
特許 6864717	レーザー維持プラズマ光源向けプラズマ・セル	2021年 4月28日

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6879939 6879950 6882209 6875483 6876055 6876721 6876754 6877462 6877541 6878553 6873129 6869944 6870129 6864695 6864717

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