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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7098756 | 基板上のターゲットの特性を決定する方法 | 2022年 7月11日 | |
特許 7097872 | ステージ装置 | 2022年 7月 8日 | |
特許 7094442 | 急速帯電デバイスの時間依存欠陥を検出するための装置及び方法 | 2022年 7月 1日 | |
特許 7093893 | レベルセンサ及びレベルセンサを組み込んだリソグラフィ装置 | 2022年 6月30日 | |
特許 7093426 | リソグラフィ測定のためのセンサ装置 | 2022年 6月29日 | |
特許 7090650 | 変形を求める方法 | 2022年 6月24日 | |
特許 7089575 | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 | 2022年 6月22日 | |
特許 7083403 | 広アクティブ領域高速検出器のピクセル形状及びセクション形状の選択 | 2022年 6月10日 | |
特許 7080236 | 放射源装置及び方法、リソグラフィ装置及び検査装置 | 2022年 6月 3日 | |
特許 7080293 | 干渉計における周期誤差の測定および校正の手順 | 2022年 6月 3日 | |
特許 7080341 | 構造の特性を決定する方法及びメトロロジ装置 | 2022年 6月 3日 | |
特許 7079858 | ステージ装置、リソグラフィ装置、コントロールユニット及び方法 | 2022年 6月 2日 | |
特許 7076042 | レーザ三角測量装置及び較正方法 | 2022年 5月26日 | |
特許 7073391 | 基板の応力を決定する方法、リソグラフィプロセス、リソグラフィ装置、及びコンピュータプログラム製品を制御するための制御システム | 2022年 5月23日 | |
特許 7072493 | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 | 2022年 5月20日 |
126 件中 61-75 件を表示
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7098756 7097872 7094442 7093893 7093426 7090650 7089575 7083403 7080236 7080293 7080341 7079858 7076042 7073391 7072493
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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2月25日(火) -
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