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エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．

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エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2023-169262	ＥＵＶリソグラフィのためのペリクル	2023年11月29日
特表 2023-549656	メトロロジシステム及びリソグラフィシステム	2023年11月29日
特表 2023-549733	能動学習に基づく欠陥位置の識別	2023年11月29日
特表 2023-549319	測定システム及びその使用方法	2023年11月24日
特表 2023-549101	暗視野デジタルホログラフィック顕微鏡及び関連メトロロジ方法	2023年11月22日
特表 2023-548663	対物レンズアレイアセンブリ、電子光学系、電子光学系アレイ、集束方法	2023年11月20日
特表 2023-548684	基板エリアの測定データをモデル化する方法及び関連する装置	2023年11月20日
特開 2023-165699	ＥＵＶリソグラフィシステムにおける光学素子寿命の延長	2023年11月17日
特開 2023-165951	ＥＵＶリソグラフィ用のメンブレン	2023年11月17日
特表 2023-546667	ＥＵＶスペクトル範囲用の２値強度マスク	2023年11月 7日
特表 2023-545963	リソグラフィ装置における基板レベルセンシング	2023年11月 1日
特表 2023-545755	マルチビームを規定するためのアパーチャパターン	2023年10月31日
特開 2023-156357	多重荷電粒子ビーム装置	2023年10月24日
特表 2023-544258	ボケ除去モデルを生成して像のボケを除去する装置及び方法	2023年10月23日
特表 2023-544266	基板ホルダ、基板ホルダを備えた搬送システム、及びリソグラフィ装置	2023年10月23日

157 件中 16-30 件を表示

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2023-169262 2023-549656 2023-549733 2023-549319 2023-549101 2023-548663 2023-548684 2023-165699 2023-165951 2023-546667 2023-545963 2023-545755 2023-156357 2023-544258 2023-544266

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