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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第263位 136件
（
2022年：第259位 138件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第87位 361件
（2022年：第85位 351件）
（ランキング更新日：2025年2月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7218437 | 荷電粒子線装置用シンチレータおよび荷電粒子線装置 | 2023年 2月 6日 | |
| 特許 7218458 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2023年 2月 6日 | |
| 特許 7217668 | 光源および生化学分析装置 | 2023年 2月 3日 | |
| 特許 7217189 | イオン検出装置 | 2023年 2月 2日 | |
| 特許 7216679 | 情報処理装置、および判断結果出力方法 | 2023年 2月 1日 | |
| 特許 7216815 | 自動分析装置、及びその洗浄方法 | 2023年 2月 1日 | |
| 特許 7216212 | 荷電粒子ビーム装置 | 2023年 1月31日 | |
| 特許 7213688 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2023年 1月27日 | |
| 特許 7212444 | エッチング処理方法およびエッチング処理装置 | 2023年 1月25日 | |
| 特許 7212590 | 事故リスク診断方法、事故リスク診断装置、及び事故リスク診断システム | 2023年 1月25日 | |
| 特許 7210309 | 自動分析装置、及び分析方法 | 2023年 1月23日 | |
| 特許 7210760 | 自動分析装置 | 2023年 1月23日 | |
| 特許 7210761 | 試料ホルダ、膜間距離調整機構、および荷電粒子線装置 | 2023年 1月23日 | |
| 特許 7210762 | 薄膜破損検知機能、および荷電粒子線装置 | 2023年 1月23日 | |
| 特許 7208727 | 自動分析装置および自動分析装置の漏水検知方法 | 2023年 1月19日 |
363 件中 331-345 件を表示
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7218437 7218458 7217668 7217189 7216679 7216815 7216212 7213688 7212444 7212590 7210309 7210760 7210761 7210762 7208727
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