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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第273位 126件
（
2023年：第263位 136件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第83位 368件
（
2023年：第87位 361件）
（ランキング更新日：2025年1月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7414954 | 自動分析装置 | 2024年 1月16日 | |
| 特許 7412279 | 画像診断方法、画像診断支援装置、及び計算機システム | 2024年 1月12日 | |
| 特許 7412321 | オブジェクト分類装置、オブジェクト分類システム及びオブジェクト分類方法 | 2024年 1月12日 | |
| 特許 7411750 | 培養容器ラック及び分析装置 | 2024年 1月11日 | |
| 特許 7411751 | 培養容器ラック及び分析装置 | 2024年 1月11日 | |
| 特許 7411806 | 質量分析方法及び質量分析装置 | 2024年 1月11日 | |
| 特許 7411042 | パターン計測方法、計測システム、及びコンピュータ可読媒体 | 2024年 1月10日 | |
| 特許 7410007 | 搬送装置 | 2024年 1月 9日 | |
| 特許 7410164 | 検査システム、及び非一時的コンピュータ可読媒体 | 2024年 1月 9日 | |
| 特許 7408810 | イオンセンサの製造方法 | 2024年 1月 5日 | |
| 特許 7407906 | 半導体解析システム | 2024年 1月 4日 |
371 件中 361-371 件を表示
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7414954 7412279 7412321 7411750 7411751 7411806 7411042 7410007 7410164 7408810 7407906
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