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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第273位 126件
（
2023年：第263位 136件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第83位 368件
（
2023年：第87位 361件）
（ランキング更新日：2025年1月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7441153 | 超音波洗浄機及び自動分析装置 | 2024年 2月29日 | |
| 特許 7441347 | プラズマ処理装置 | 2024年 2月29日 | |
| 特許 7438906 | 自動分析装置 | 2024年 2月27日 | |
| 特許 7439288 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2024年 2月27日 | |
| 特許 7438311 | 画像処理システムおよび画像処理方法 | 2024年 2月26日 | |
| 特許 7436691 | 荷電粒子線装置および試料観察方法 | 2024年 2月22日 | |
| 特許 7436694 | 荷電粒子線装置 | 2024年 2月22日 | |
| 特許 7437262 | 荷電粒子線装置および電気ノイズの計測方法 | 2024年 2月22日 | |
| 特許 7436270 | 生体検体解析装置 | 2024年 2月21日 | |
| 特許 7433368 | プロセスレシピ探索装置 | 2024年 2月19日 | |
| 特許 7433426 | 自動分析装置及びその組立支援システム | 2024年 2月19日 | |
| 特許 7433440 | 自動分析装置 | 2024年 2月19日 | |
| 特許 7433459 | 自動分析装置 | 2024年 2月19日 | |
| 特許 7433477 | イオン源およびこれを備えた質量分析計 | 2024年 2月19日 | |
| 特許 7432605 | 質量分析装置およびこれを制御する方法 | 2024年 2月16日 |
371 件中 316-330 件を表示
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7441153 7441347 7438906 7439288 7438311 7436691 7436694 7437262 7436270 7433368 7433426 7433440 7433459 7433477 7432605
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