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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7568870 | 半導体装置の製造方法 | 2024年10月16日 | |
特許 7565887 | 荷電粒子線装置の撮像画像に係る条件決定方法、装置およびプログラム | 2024年10月11日 | |
特許 7566170 | プラズマ処理装置 | 2024年10月11日 | |
特許 7565186 | 治療方針立案支援装置 | 2024年10月10日 | |
特許 7565377 | 自動分析装置 | 2024年10月10日 | |
特許 7564897 | 校正用サンプル、校正用サンプルの製造方法及びオートフォーカス目標位置の校正方法 | 2024年10月 9日 | |
特許 7563951 | 位置決め装置、放射線治療システム、および位置決め方法 | 2024年10月 8日 | |
特許 7564334 | 装置診断システム、装置診断装置、半導体装置製造システムおよび装置診断方法 | 2024年10月 8日 | |
特許 7564357 | 粒子加速用構造体および荷電粒子ビーム装置 | 2024年10月 8日 | |
特許 7562854 | 自動分析装置 | 2024年10月 7日 | |
特許 7562039 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2024年10月 4日 | |
特許 7561059 | 収納容器設置台及び半導体製造装置 | 2024年10月 3日 | |
特許 7561145 | 検体搬送装置、検体分析システム、および検体前処理システム、並びに検体の搬送方法 | 2024年10月 3日 | |
特許 7561267 | 自動分析装置 | 2024年10月 3日 | |
特許 7561277 | 自動分析装置の制御方法、自動分析装置 | 2024年10月 3日 |
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7568870 7565887 7566170 7565186 7565377 7564897 7563951 7564334 7564357 7562854 7562039 7561059 7561145 7561267 7561277
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1月16日(木) -
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1月14日(火) - 東京 港区
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