ホーム > 特許ランキング > 独立行政法人物質・材料研究機構 > 2024年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(独立行政法人物質・材料研究機構)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2024年 出願公開件数ランキング 第379位 87件 (2023年:第363位 93件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第254位 125件 (2023年:第334位 95件)
(ランキング更新日:2025年1月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2024-65250 | 磁気引力式磁気冷凍装置 | 2024年 5月15日 | |
特開 2024-66198 | 生体分子自動検出装置 | 2024年 5月15日 | |
特開 2024-61265 | 蛍光体、光学素子、レーザ発振器、レーザ増幅器及び製造方法 | 2024年 5月 7日 | |
特開 2024-60124 | 流体センサ、流路及びその製造方法並びに流体センサ製造方法 | 2024年 5月 2日 | |
特開 2024-60401 | 防氷性材料 | 2024年 5月 2日 | |
特開 2024-60482 | 蛍光体及び発光装置 | 2024年 5月 2日 | |
特開 2024-59117 | 音響測定によるガスの特性抽出方法およびそのための装置 | 2024年 5月 1日 | |
特開 2024-57982 | タービン翼形部品の製造方法及びこれを用いたタービン翼形部品 | 2024年 4月25日 | |
特開 2024-56329 | 平面型赤外光源及び気流計測装置 | 2024年 4月23日 | |
特開 2024-55798 | 風味改善剤、風味改善方法、製造方法および除去剤 | 2024年 4月18日 | |
特開 2024-51198 | 結晶化コーティング薄膜及びその製造方法、並びに光学積層体及びこれを備えたディスプレイ、レンズ、及び物品 | 2024年 4月11日 | |
特開 2024-43610 | 水蒸気検出センサ用感応膜、この感応膜を有する水蒸気検出センサ、並びにこの水蒸気検出センサを備える湿度測定装置及び水分測定装置 | 2024年 4月 2日 | |
特開 2024-42790 | ポリオレフィン組成物、及びその成形体 | 2024年 3月29日 | |
特開 2024-39532 | 酸素還元触媒およびその製造方法 | 2024年 3月22日 | |
特開 2024-38999 | 反射材 | 2024年 3月21日 |
124 件中 76-90 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2024-65250 2024-66198 2024-61265 2024-60124 2024-60401 2024-60482 2024-59117 2024-57982 2024-56329 2024-55798 2024-51198 2024-43610 2024-42790 2024-39532 2024-38999
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。独立行政法人物質・材料研究機構の知財の動向チェックに便利です。
1月9日(木) -
1月10日(金) -
1月11日(土) -
1月11日(土) -
1月9日(木) -
1月14日(火) - 東京 港区
1月15日(水) -
1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
1月15日(水) -
1月16日(木) - 石川 金沢市
1月16日(木) -
1月17日(金) - 東京 渋谷区
1月17日(金) -
1月17日(金) -
1月18日(土) -
1月14日(火) - 東京 港区
Floor 16, Tower A, InDo Building, A48 Zhichun Road, Haidian District, Beijing 100098, P.R. China 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
福岡県福岡市中央区天神2-3-10-719 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒104-0045 東京都中央区築地1-12-22 コンワビル4F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング