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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第649位 38件
（
2023年：第628位 47件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第866位 24件
（
2023年：第1177位 18件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7478509 | プラズマ集束イオンビームによる生物学的極低温試料の処理のための方法、装置およびシステム | 2024年 5月 7日 | |
| 特許 7464370 | 顕微鏡画像のスマート計測 | 2024年 4月 9日 | |
| 特許 7461864 | 電子ベースのホログラムの改良された再構成アルゴリズム | 2024年 4月 4日 | |
| 特許 7457687 | ＴＥＭ補正器システムにおける熱磁場ノイズの低減 | 2024年 3月28日 | |
| 特許 7451811 | 電子エミッタのためのマイクロロッドを生成する方法、並びに関連するマイクロロッド及び電子エミッタ | 2024年 3月18日 | |
| 特許 7443472 | 真空対応Ｘ線遮蔽体 | 2024年 3月 5日 | |
| 特許 7431016 | 電子顕微鏡を使用して試料を画像化する方法 | 2024年 2月14日 | |
| 特許 7426192 | 調節可能なビームエネルギー広がりを有する透過荷電粒子顕微鏡 | 2024年 2月 1日 | |
| 特許 7419007 | 画像セグメント化を使用した物体追跡 | 2024年 1月22日 |
24 件中 16-24 件を表示
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7478509 7464370 7461864 7457687 7451811 7443472 7431016 7426192 7419007
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