特許ランキング - 出願人詳細情報 -

エフ　イー　アイ　カンパニ

※ ログインすれば出願人(エフ　イー　アイ　カンパニ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2025年出願公開件数ランキング　　　第494位　44件（2024年：第668位　40件）

　■　2025年特許取得件数ランキング　　　第530位　34件（2024年：第720位　34件）

（ランキング更新日：2025年10月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7700419	荷電粒子ビーム装置の整列方法	2025年 7月 1日
特許 7676719	透過型荷電粒子顕微鏡を使用して試料を画像化する方法	2025年 5月15日
特許 7677709	機械的に安定した電子源	2025年 5月15日
特許 7648052	データ処理装置によって実施される方法、およびそのような方法で試料を検査するための荷電粒子ビームデバイス	2025年 3月18日
特許 7648590	高反応性材料のサンプルリフトアウトを実施するためのシステム及び方法	2025年 3月18日
特許 7635493	電子後方散乱回折パターンを取得するための方法およびシステム	2025年 2月26日
特許 7631653	軸方向位置合わせ組立体、およびそのような位置合わせ組立体を備えた荷電粒子顕微鏡	2025年 2月19日
特許 7626342	サンプル処理中に画像化するためのデュアルビーム顕微鏡システム	2025年 2月 4日
特許 7625662	電子撮像用途におけるセンサ保護のためのシステム	2025年 2月 3日
特許 7622328	低温荷電粒子試料を取り扱うためのシステムおよび方法	2025年 1月28日
特許 7622337	６次以上の補正ＳＴＥＭ多極子補正器	2025年 1月28日
特許 7618948	電子顕微鏡を用いる生命科学試料の連続微細切片からナノメートル解像度３Ｄ画像データを記録するための自動ロバスト法	2025年 1月22日
特許 7618949	荷電粒子ビーム装置を使用して試料を検査する方法	2025年 1月22日
特許 7615482	超高速ＴＥＭ用途のための高速ブランカーのあるパルス化ＣＦＥ電子源	2025年 1月17日
特許 7615499	荷電粒子ビームのエネルギー幅を決定する方法	2025年 1月17日

34 件中 16-30 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

7700419 7676719 7677709 7648052 7648590 7635493 7631653 7626342 7625662 7622328 7622337 7618948 7618949 7615482 7615499

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ　イー　アイ　カンパニの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数