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株式会社ニューフレアテクノロジー
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第688位 35件
（
2023年：第609位 49件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第440位 57件
（
2023年：第509位 54件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7442375 | マルチ電子ビーム検査装置及びマルチ電子ビーム検査方法 | 2024年 3月 4日 | |
| 特許 7442376 | マルチ電子ビーム検査装置及びマルチ電子ビーム検査方法 | 2024年 3月 4日 | |
| 特許 7440354 | パターン検査装置及びパターン検査方法 | 2024年 2月28日 | |
| 特許 7440660 | 気相成長装置 | 2024年 2月28日 | |
| 特許 7440666 | 気相成長装置及び気相成長方法 | 2024年 2月28日 | |
| 特許 7429128 | マルチ電子ビーム照射装置及びマルチ電子ビーム照射方法 | 2024年 2月 7日 | |
| 特許 7421364 | マルチビーム描画方法及びマルチビーム描画装置 | 2024年 1月24日 | |
| 特許 7421423 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法 | 2024年 1月24日 | |
| 特許 7411521 | 荷電粒子ビーム調整方法、荷電粒子ビーム描画方法、および荷電粒子ビーム照射装置 | 2024年 1月11日 | |
| 特許 7411594 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2024年 1月11日 | |
| 特許 7409913 | 画像内のホールパターンの探索方法、パターン検査方法、及びパターン検査装置 | 2024年 1月 9日 | |
| 特許 7409946 | マルチ荷電粒子ビーム照射装置及びマルチ荷電粒子ビーム検査装置 | 2024年 1月 9日 | |
| 特許 7409988 | パターン検査装置及び輪郭線同士のアライメント量取得方法 | 2024年 1月 9日 |
58 件中 46-58 件を表示
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7442375 7442376 7440354 7440660 7440666 7429128 7421364 7421423 7411521 7411594 7409913 7409946 7409988
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