日本電子株式会社
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第557位 66件
（
2016年：第499位 67件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第563位 44件
（
2016年：第600位 43件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6124617 | 荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 5月10日 | |
| 特許 6124679 | 走査荷電粒子顕微鏡および画像取得方法 | 2017年 5月10日 | |
| 特許 6124750 | 放射線検出装置、および試料分析装置 | 2017年 5月10日 | |
| 特許 6111387 | ＮＭＲ測定方法 | 2017年 4月12日 | |
| 特許 6104559 | 自動分析装置 | 2017年 3月29日 | |
| 特許 6104703 | 電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 | 2017年 3月29日 | |
| 特許 6104756 | 電子分光装置 | 2017年 3月29日 | |
| 特許 6084815 | タンデム飛行時間型質量分析計 | 2017年 2月22日 | |
| 特許 6084822 | イオンビーム加工装置、試料加工方法及び試料容器 | 2017年 2月22日 | |
| 特許 6084902 | 検出器および荷電粒子線装置 | 2017年 2月22日 | |
| 特許 6077735 | 電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 | 2017年 2月 8日 | |
| 特許 6077757 | 電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 | 2017年 2月 8日 | |
| 特許 6077960 | 球面収差補正装置、球面収差補正方法、および荷電粒子線装置 | 2017年 2月 8日 | |
| 特許 6071417 | 自動分析装置 | 2017年 2月 1日 | |
| 特許 6062737 | 位相板の製造方法 | 2017年 1月18日 |
46 件中 31-45 件を表示
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6124617 6124679 6124750 6111387 6104559 6104703 6104756 6084815 6084822 6084902 6077735 6077757 6077960 6071417 6062737
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