日本電子株式会社
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第446位 77件
（
2020年：第450位 75件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第250位 116件
（2020年：第420位 61件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6824006 | 自動分析装置及びプログラム | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6824062 | イオン化法選択支援装置及び方法 | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6824210 | 電子顕微鏡 | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6824219 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6824237 | 分注ユニット及び自動分析装置 | 2021年 2月 3日 | |
| 特許 6817098 | 試料移動装置及び電子顕微鏡 | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6817139 | 試料ホルダーユニット及び試料観察装置 | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6817243 | スペクトル処理装置及び方法 | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6817349 | 偏向器および荷電粒子線装置 | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6808574 | 容器収容ユニット及び自動分析装置 | 2021年 1月 6日 | |
| 特許 6808669 | 質量分析装置 | 2021年 1月 6日 | |
| 特許 6808691 | 試料搬送装置及び電子顕微鏡 | 2021年 1月 6日 | |
| 特許 6808693 | Ｘ線分析装置および計数率の補正方法 | 2021年 1月 6日 | |
| 特許 6808700 | 元素マップの生成方法および表面分析装置 | 2021年 1月 6日 | |
| 特許 6808772 | エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置 | 2021年 1月 6日 |
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6824006 6824062 6824210 6824219 6824237 6817098 6817139 6817243 6817349 6808574 6808669 6808691 6808693 6808700 6808772
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