日本電子株式会社
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第586位 48件
（
2023年：第463位 68件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第327位 91件
（
2023年：第390位 78件）
（ランキング更新日：2025年1月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2024-102630 | 試料ホルダー、試料ホルダーセット、および試料作製方法 | 2024年 7月31日 | |
| 特開 2024-99921 | 質量分析システム及びピーク評価方法 | 2024年 7月26日 | |
| 特開 2024-92704 | 遮蔽板製造装置および遮蔽板の製造方法 | 2024年 7月 8日 | |
| 特開 2024-90213 | 衝突判定装置、プログラム及び衝突判定方法 | 2024年 7月 4日 | |
| 特開 2024-85160 | 試料ステージおよび荷電粒子ビーム装置 | 2024年 6月26日 | |
| 特開 2024-68324 | ＭＡＳ装置 | 2024年 5月20日 | |
| 特開 2024-66835 | 分析方法および分析装置 | 2024年 5月16日 | |
| 特開 2024-65713 | 電子顕微鏡、多極子、および電子顕微鏡の制御方法 | 2024年 5月15日 | |
| 特開 2024-65714 | 荷電粒子光学系の調整方法および荷電粒子線装置 | 2024年 5月15日 | |
| 特開 2024-63114 | ホスホニウム化合物、誘導体化用試薬キット、質量分析方法、及びホスホニウム化合物の製造方法 | 2024年 5月10日 | |
| 特開 2024-56411 | 試料支持体及びその製造方法 | 2024年 4月23日 | |
| 特開 2024-51310 | インドールカルボン酸化合物、インドールカルボン酸化合物の混合物、及び分析方法 | 2024年 4月11日 | |
| 特開 2024-50094 | ポリマー解析装置及び方法 | 2024年 4月10日 | |
| 特開 2024-42773 | エストロゲンの誘導体化方法、質量分析方法、誘導体化試薬、及び誘導体化試薬キット | 2024年 3月29日 | |
| 特開 2024-42839 | 試料加工装置、遮蔽板、および試料加工方法 | 2024年 3月29日 |
50 件中 16-30 件を表示
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2024-102630 2024-99921 2024-92704 2024-90213 2024-85160 2024-68324 2024-66835 2024-65713 2024-65714 2024-63114 2024-56411 2024-51310 2024-50094 2024-42773 2024-42839
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