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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6023209	高輝度発光ダイオードのための高スループット高温試験方法およびシステム	2016年11月 9日
特許 6019042	レーザ液滴プラズマ照明器による光学結像システム	2016年11月 2日
特許 6012627	表面計測ツールにおける改善された局部的特徴定量化のための方法及びシステム	2016年10月25日
特許 6013380	半導体ウェーハのリアルタイム三次元ＳＥＭ画像化およびビューイングのための装置および方法	2016年10月25日
特許 6010042	ウェーハ検査	2016年10月19日
特許 6007110	ウェーハ縁部（エッジ）特徴の検出および定量化のためのシステムおよび方法	2016年10月12日
特許 6000247	計測のための光学的対称化	2016年 9月28日
特許 6000288	反射性リソグラフィマスクブランクを検査し、マスク品質を向上させるための方法および装置	2016年 9月28日
特許 6000338	基板状の計測デバイス用熱遮蔽モジュール	2016年 9月28日
特許 6000362	非線形光学結晶の水素不活性化	2016年 9月28日
特許 5991960	半導体における周期構造の実時間分析	2016年 9月14日
特許 5980237	設計ベースデバイスリスク評価	2016年 8月31日
特許 5980822	表面検査を行う方法	2016年 8月31日
特許 5980828	半導体製造プロセスのための方法とシステム	2016年 8月31日
特許 5969511	広い処理範囲の計測用ライブラリ	2016年 8月17日

58 件中 16-30 件を表示

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6023209 6019042 6012627 6013380 6010042 6007110 6000247 6000288 6000338 6000362 5991960 5980237 5980822 5980828 5969511

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