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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7540628	荷電粒子システムにおけるサンプルの３Ｄ画像の深度再構成	2024年 8月27日
特許 7533846	２つのデバイス間でサンプルを移送するための搬送装置および方法、ならびにサンプル操作のためのシステム	2024年 8月14日
特許 7534050	プラズマ支援低真空荷電粒子顕微鏡法のための方法およびシステム	2024年 8月14日
特許 7522069	断層撮影におけるランダムな角度のサンプリングのための回転するサンプルホルダ	2024年 7月24日
特許 7516098	荷電粒子顕微鏡を使用したサンプル検査方法	2024年 7月16日
特許 7506987	人工知能対応ボリューム再構築	2024年 6月27日
特許 7499049	複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置	2024年 6月13日
特許 7499207	同時ＳＴＥＭおよびＴＥＭ顕微鏡	2024年 6月13日
特許 7489348	３Ｄ回折データを取得するための方法およびシステム	2024年 5月23日
特許 7486322	荷電粒子顕微鏡用の試料ホルダー	2024年 5月17日
特許 7478509	プラズマ集束イオンビームによる生物学的極低温試料の処理のための方法、装置およびシステム	2024年 5月 7日
特許 7464370	顕微鏡画像のスマート計測	2024年 4月 9日
特許 7461864	電子ベースのホログラムの改良された再構成アルゴリズム	2024年 4月 4日
特許 7457687	ＴＥＭ補正器システムにおける熱磁場ノイズの低減	2024年 3月28日
特許 7451811	電子エミッタのためのマイクロロッドを生成する方法、並びに関連するマイクロロッド及び電子エミッタ	2024年 3月18日

34 件中 16-30 件を表示

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7540628 7533846 7534050 7522069 7516098 7506987 7499049 7499207 7489348 7486322 7478509 7464370 7461864 7457687 7451811

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