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株式会社ＳＵＭＣＯ

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　■　2020年出願公開件数ランキング　　　第356位　104件（2019年：第321位　122件）

　■　2020年特許取得件数ランキング　　　第290位　95件（2019年：第185位　146件）

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株式会社ＳＵＭＣＯの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6743753	シリコン単結晶の引上げ方法	2020年 8月19日
特許 6743785	キャリアの製造方法およびウェーハの研磨方法	2020年 8月19日
特許 6743797	坩堝支持台座、石英坩堝支持装置およびシリコン単結晶の製造方法	2020年 8月19日
特許 6737066	エピタキシャルシリコンウェーハの製造方法、エピタキシャルシリコンウェーハ、及び固体撮像素子の製造方法	2020年 8月 5日
特許 6737224	多層膜ＳＯＩウェーハの製造方法	2020年 8月 5日
特許 6737232	シリコン単結晶の評価方法およびシリコン単結晶の製造方法	2020年 8月 5日
特許 6729352	エピタキシャルシリコンウェーハの製造方法	2020年 7月22日
特許 6729411	シリコン単結晶の製造方法	2020年 7月22日
特許 6729445	シリコン試料の炭素濃度評価方法、シリコンウェーハ製造工程の評価方法、シリコンウェーハの製造方法およびシリコン単結晶インゴットの製造方法	2020年 7月22日
特許 6729447	エピタキシャルシリコンウェーハの製造方法および固体撮像素子の製造方法	2020年 7月22日
特許 6729470	単結晶の製造方法及び装置	2020年 7月22日
特許 6729471	多層膜ＳＯＩウェーハの製造方法および多層膜ＳＯＩウェーハ	2020年 7月22日
特許 6729484	シリコン単結晶の製造方法	2020年 7月22日
特許 6724824	半導体エピタキシャルウェーハの製造方法、品質予測方法および品質評価方法	2020年 7月15日
特許 6724852	エピタキシャルシリコンウェーハのエピタキシャル層厚の測定方法、及びエピタキシャルシリコンウェーハの製造方法	2020年 7月15日

95 件中 31-45 件を表示

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6743753 6743785 6743797 6737066 6737224 6737232 6729352 6729411 6729445 6729447 6729470 6729471 6729484 6724824 6724852

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