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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第138位 311件
(2019年:第141位 330件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第136位 210件
(2019年:第156位 176件)
(ランキング更新日:2025年8月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6803917 | 真空処理システム及び真空処理を行う方法 | 2020年12月23日 | |
特許 6803926 | ヘッドルーム制御とEtherCATインターフェースを有するめっき電源 | 2020年12月23日 | |
特許 6803967 | 低損傷及び高スループットのプラズマ処理のための大面積VHF PECVDチャンバ | 2020年12月23日 | |
特許 6804990 | より均一なエッジパージを有する基板支持体 | 2020年12月23日 | |
特許 6805324 | マイクロメカニカル及び半導体処理におけるワークピースキャリアの積層された上部プレート | 2020年12月23日 | |
特許 6799601 | OLEDデバイスの製造に使用される真空システムを洗浄するための方法、OLEDデバイスを製造するための基板の上での真空堆積のための方法、及びOLEDデバイスを製造するための基板の上での真空堆積のための装置 | 2020年12月16日 | |
特許 6800015 | 3Dフラッシュメモリ応用のための誘電体金属スタック | 2020年12月16日 | |
特許 6800216 | 基板処理のためのRF電力供給制御 | 2020年12月16日 | |
特許 6800236 | 真空チャンバ内のガス分離通路のガス分離品質を検査する方法、および真空処理装置 | 2020年12月16日 | |
特許 6800867 | ターゲット寿命にわたって1つまたは複数の膜特性を制御するための自動容量チューナによる電流補償 | 2020年12月16日 | |
特許 6802191 | サセプタの位置付け及び回転装置、並びに使用の方法 | 2020年12月16日 | |
特許 6797690 | ファセット付き内面を有する保持リング | 2020年12月 9日 | |
特許 6789966 | 膜堆積のためのパルス化されたプラズマ | 2020年12月 2日 | |
特許 6793118 | 磁気感受性による電波の屈折および速度変化によって温度を測定する方法 | 2020年12月 2日 | |
特許 6793551 | 渦電流測定値を調整すること | 2020年12月 2日 |
211 件中 1-15 件を表示
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6803917 6803926 6803967 6804990 6805324 6799601 6800015 6800216 6800236 6800867 6802191 6797690 6789966 6793118 6793551
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