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日本電子株式会社

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日本電子株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7576592	荷電粒子線装置および画像取得方法	2024年10月31日
特許 7569821	試料分析装置及び方法	2024年10月18日
特許 7569830	電子顕微鏡、多極子、および電子顕微鏡の制御方法	2024年10月18日
特許 7562480	試料加工装置および試料加工方法	2024年10月 7日
特許 7562585	部分構造推定装置及び部分構造推定モデル生成方法	2024年10月 7日
特許 7562603	蛍光Ｘ線分析装置および測定方法	2024年10月 7日
特許 7562609	三次元積層造形装置	2024年10月 7日
特許 7562628	遮蔽板製造装置および遮蔽板の製造方法	2024年10月 7日
特許 7562721	試料ホルダー、試料ホルダーセット、および試料作製方法	2024年10月 7日
特許 7555064	真空設置用コイル、物理パッケージ、光格子時計用物理パッケージ、原子時計用物理パッケージ、原子干渉計用物理パッケージ、量子情報処理デバイス用物理パッケージ、及び、密閉部材	2024年 9月24日
特許 7544658	複合ビーム装置	2024年 9月 3日
特許 7538069	対物レンズ、電子顕微鏡、対物レンズのクリーニング方法、および治具	2024年 8月21日
特許 7538072	自動分析装置及びデータ出力方法	2024年 8月21日
特許 7538174	マスイメージ処理装置及び方法	2024年 8月21日
特許 7527177	試料充填装置	2024年 8月 2日

92 件中 16-30 件を表示

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7576592 7569821 7569830 7562480 7562585 7562603 7562609 7562628 7562721 7555064 7544658 7538069 7538072 7538174 7527177

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