日本電子株式会社
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第586位 48件
（
2023年：第463位 68件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第327位 91件
（
2023年：第390位 78件）
（ランキング更新日：2025年1月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7442488 | 相分析装置、試料分析装置、および分析方法 | 2024年 3月 4日 | |
| 特許 7440475 | 高電圧増幅回路、及び分析装置 | 2024年 2月28日 | |
| 特許 7440483 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2024年 2月28日 | |
| 特許 7440484 | 試料カートリッジ搬送システム | 2024年 2月28日 | |
| 特許 7433612 | ＮＭＲ装置、及び、ＮＭＲプローブ内のガス置換方法 | 2024年 2月20日 | |
| 特許 7430094 | 荷電粒子線描画装置および描画方法 | 2024年 2月 9日 | |
| 特許 7430157 | ＮＭＲ測定装置及び溶媒識別方法 | 2024年 2月 9日 | |
| 特許 7414785 | ＮＭＲ測定装置 | 2024年 1月16日 | |
| 特許 7414862 | 試料カートリッジ保持装置 | 2024年 1月16日 | |
| 特許 7407558 | 間接加熱蒸着装置 | 2024年 1月 4日 | |
| 特許 7407664 | 試料作製方法 | 2024年 1月 4日 | |
| 特許 7407671 | 自動分析装置及びプログラム | 2024年 1月 4日 | |
| 特許 7407680 | 三次元構造体の製造方法および三次元構造体の製造装置 | 2024年 1月 4日 | |
| 特許 7407771 | 電子ビーム検査装置 | 2024年 1月 4日 | |
| 特許 7407772 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2024年 1月 4日 |
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7442488 7440475 7440483 7440484 7433612 7430094 7430157 7414785 7414862 7407558 7407664 7407671 7407680 7407771 7407772
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