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日本電子株式会社

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日本電子株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7520310	光格子時計用物理パッケージ	2024年 7月23日
特許 7514760	試料断面作製方法及び試料断面作製用型枠キット	2024年 7月11日
特許 7514789	ウイルス由来タンパク質検出方法、マススペクトル処理装置及び質量分析システム	2024年 7月11日
特許 7514885	３次元積層造形装置	2024年 7月11日
特許 7514886	試料加工用ホルダ及び試料加工方法	2024年 7月11日
特許 7506878	３軸磁場補正コイル、物理パッケージ、光格子時計用物理パッケージ、原子時計用物理パッケージ、原子干渉計用物理パッケージ、量子情報処理デバイス用物理パッケージ、及び、物理パッケージシステム	2024年 6月27日
特許 7506879	３軸磁場補正コイル、物理パッケージ、光格子時計用物理パッケージ、原子時計用物理パッケージ、原子干渉計用物理パッケージ、量子情報処理デバイス用物理パッケージ、及び、物理パッケージシステム	2024年 6月27日
特許 7506880	光格子時計及び光格子時計の磁場補正方法	2024年 6月27日
特許 7502223	荷電粒子ビーム装置	2024年 6月18日
特許 7502225	自動分析装置	2024年 6月18日
特許 7502226	自動分析装置	2024年 6月18日
特許 7502237	三次元積層造形装置および三次元積層造形方法	2024年 6月18日
特許 7502359	荷電粒子線源および荷電粒子線装置	2024年 6月18日
特許 7498212	電子顕微鏡および収差測定方法	2024年 6月11日
特許 7498223	電子顕微鏡およびキャリブレーション方法	2024年 6月11日

92 件中 31-45 件を表示

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7520310 7514760 7514789 7514885 7514886 7506878 7506879 7506880 7502223 7502225 7502226 7502237 7502359 7498212 7498223

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