日本電子株式会社
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（
2023年：第463位 68件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第327位 91件
（
2023年：第390位 78件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7465243 | ステージ装置および電子ビーム描画装置 | 2024年 4月10日 | |
| 特許 7465246 | 荷電粒子線装置及び画像生成方法 | 2024年 4月10日 | |
| 特許 7465295 | 収差補正装置および電子顕微鏡 | 2024年 4月10日 | |
| 特許 7465299 | 荷電粒子線装置 | 2024年 4月10日 | |
| 特許 7465395 | 走査型電子顕微鏡 | 2024年 4月10日 | |
| 特許 7457606 | スペクトル測定装置、スピン流デバイス測定システム及びスピン流デバイス測定方法 | 2024年 3月28日 | |
| 特許 7457607 | 軟Ｘ線分光装置および分析方法 | 2024年 3月28日 | |
| 特許 7457613 | 三次元積層造形装置および三次元積層造形方法 | 2024年 3月28日 | |
| 特許 7457674 | 三次元積層造形装置 | 2024年 3月28日 | |
| 特許 7457683 | ＮＭＲ用角度調整装置 | 2024年 3月28日 | |
| 特許 7453171 | 固相混合物、充填剤及びカラム | 2024年 3月19日 | |
| 特許 7453186 | 三次元積層造形装置 | 2024年 3月19日 | |
| 特許 7453202 | 質量分析装置及び方法 | 2024年 3月19日 | |
| 特許 7453273 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の制御方法 | 2024年 3月19日 | |
| 特許 7442487 | 相分析装置、試料分析装置、および分析方法 | 2024年 3月 4日 |
92 件中 61-75 件を表示
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7465243 7465246 7465295 7465299 7465395 7457606 7457607 7457613 7457674 7457683 7453171 7453186 7453202 7453273 7442487
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