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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第630位 43件
（
2023年：第678位 43件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第1274位 16件
（2023年：第1732位 11件）
（ランキング更新日：2025年1月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特表 2024-508467 | 試験測定システム | 2024年 2月27日 | |
| 特開 2024-22567 | 試験測定装置及び出力電荷量を求める方法 | 2024年 2月16日 | |
| 特開 2024-20154 | 試験測定システム、機械学習システムのためのデータを収集及び使用する方法、並びにシステム内で収集されたデータを監視する方法 | 2024年 2月14日 | |
| 特表 2024-506293 | 人間と機械学習のためのオーバーレイ、コンポジット、ダイナミック・アイ・トリガを備えたアイのクラス・セパレータ | 2024年 2月13日 | |
| 特開 2024-19119 | 通信システム及び試験測定システム | 2024年 2月 8日 | |
| 特開 2024-16841 | 電流測定デバイス | 2024年 2月 7日 | |
| 特開 2024-14840 | 試験測定装置及び波形データ表示方法 | 2024年 2月 1日 | |
| 特開 2024-14841 | 試験測定装置及び任意波形発生器 | 2024年 2月 1日 | |
| 特開 2024-14843 | 試験測定装置及び試験測定装置における方法 | 2024年 2月 1日 | |
| 特開 2024-12185 | 時間スキュー量を求めるシステム及び方法 | 2024年 1月25日 | |
| 特開 2024-997 | 試験測定システム及び方法 | 2024年 1月 9日 | |
| 特開 2024-999 | 試験測定システム及び方法 | 2024年 1月 9日 | |
| 特開 2024-1002 | 試験測定装置及び測定方法 | 2024年 1月 9日 |
43 件中 31-43 件を表示
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2024-508467 2024-22567 2024-20154 2024-506293 2024-19119 2024-16841 2024-14840 2024-14841 2024-14843 2024-12185 2024-997 2024-999 2024-1002
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