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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7170686	レーザシステムおよび非線形光学結晶の製造方法	2022年11月14日
特許 7170037	大オフセットダイ・ダイ検査用複数段階画像整列方法	2022年11月11日
特許 7169299	層を介し光の位相及び振幅を計測する装置及び方法	2022年11月10日
特許 7169344	透明又は半透明ウェハを対象にした欠陥検出	2022年11月10日
特許 7169402	検査ツールへのダイナミックケアエリア生成システムおよび方法	2022年11月10日
特許 7166375	物体の表面の光学的三次元トポグラフィ計測システム	2022年11月 7日
特許 7161543	再使用型サブ構造に依拠したナノワイヤ半導体構造の計測モデル	2022年10月26日
特許 7160496	試料の欠陥検出及び光ルミネセンス測定のためのシステム及び方法	2022年10月25日
特許 7153147	半導体デバイスの位置ずれ測定方法及び装置	2022年10月13日
特許 7138734	デュアル干渉法試料厚さ計	2022年 9月16日
特許 7138182	サンプル表面への斜入射角での検査光整形	2022年 9月15日
特許 7135003	高空間分解能を有するＸ線ビームの特性評価のためのシステム	2022年 9月12日
特許 7133030	Ｘ線依拠計測システムの校正及びアライメント用多層ターゲット	2022年 9月 7日
特許 7126009	単波長エリプソメトリー計測方法	2022年 8月25日
特許 7122386	低解像度画像における欠陥検出のためのニューラルネットワークのトレーニング	2022年 8月19日

90 件中 16-30 件を表示

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7170686 7170037 7169299 7169344 7169402 7166375 7161543 7160496 7153147 7138734 7138182 7135003 7133030 7126009 7122386

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