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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第296位 118件
(2021年:第424位 82件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第335位 90件
(2021年:第239位 120件)
(ランキング更新日:2025年9月1日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7023223 | レーザ維持プラズマ光源における無電極プラズマ点火のための照明源およびプラズマ光源 | 2022年 2月21日 | |
特許 7023337 | 測定方法 | 2022年 2月21日 | |
特許 7022773 | 極紫外光を発生させる装置 | 2022年 2月18日 | |
特許 7018970 | 撮像ベースオーバーレイ及び散乱計測ベースオーバーレイのためのハイブリッドオーバーレイ標的設計 | 2022年 2月14日 | |
特許 7015235 | 範囲に基づくリアルタイム走査電子顕微鏡非可視ビナー | 2022年 2月 2日 | |
特許 7014817 | 浮遊式ウェハチャック | 2022年 2月 1日 | |
特許 7012734 | 光学散乱計測に基づくプロセスに対してロバストなオーバーレイ計測 | 2022年 1月28日 | |
特許 7011592 | スキャトロメトリ計測におけるプロセス変動の根本原因の解析 | 2022年 1月26日 | |
特許 7008792 | 実効媒体近似を使用した多層フィルム計測 | 2022年 1月25日 | |
特許 7008809 | 高反射積層膜上の高吸光膜層の光学的測定 | 2022年 1月25日 | |
特許 7004842 | オーバレイ計測システムおよび方法 | 2022年 1月21日 | |
特許 7001846 | X線計量方法 | 2022年 1月20日 | |
特許 7002579 | 正確なフォトレジスト輪郭予測のためのモデル | 2022年 1月20日 | |
特許 7003150 | 確率性を仮定した計量および加工 | 2022年 1月20日 | |
特許 6987914 | 変調光源を備える光学計測ツール | 2022年 1月 5日 |
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7023223 7023337 7022773 7018970 7015235 7014817 7012734 7011592 7008792 7008809 7004842 7001846 7002579 7003150 6987914
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