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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2023-513040	複合的オーバレイ計測ターゲット	2023年 3月30日
特表 2023-513080	半導体デバイス内潜在的信頼性欠陥識別システム及び方法	2023年 3月30日
特表 2023-513159	マルチ電子ビームシステム用のマイクロスティグマトールアレイ	2023年 3月30日
特表 2023-512825	広帯域照射同調	2023年 3月29日
特表 2023-512649	高圧流れを有するレーザ維持プラズマ光源	2023年 3月28日
特表 2023-512258	接合されたウェハのオーバレイ計測	2023年 3月24日
特開 2023-38254	ウェハ検査システム	2023年 3月16日
特開 2023-36641	計測ターゲット設計の方法、計測モジュール、及び計測ターゲットの製造方法	2023年 3月14日
特開 2023-33401	Ｘ線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測	2023年 3月10日
特開 2023-33554	走査型電子顕微法システム	2023年 3月10日
特表 2023-509787	高度なインライン部品平均試験	2023年 3月 9日
特表 2023-509480	軟Ｘ線スキャタロメトリに依拠するオーバレイ計測方法及びシステム	2023年 3月 8日
特表 2023-508538	厚膜フォトレジスト層計測ターゲット	2023年 3月 2日
特表 2023-507780	ウェーハモデルを使用するウェーハ露光方法及びウェーハ製造アセンブリ	2023年 2月27日
特開 2023-25174	三次元半導体構造を可視化するコンピュータ可読記憶媒体	2023年 2月21日

104 件中 76-90 件を表示

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2023-513040 2023-513080 2023-513159 2023-512825 2023-512649 2023-512258 2023-38254 2023-36641 2023-33401 2023-33554 2023-509787 2023-509480 2023-508538 2023-507780 2023-25174

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