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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2023-21259	高効率レーザー維持プラズマシステム	2023年 2月10日
特開 2023-21117	広帯域レーザ産生プラズマイルミネータを有するＸ線計量システム及び方法	2023年 2月 9日
特開 2023-21158	モデルベースの限界寸法測定の方法およびシステム	2023年 2月 9日
特表 2023-505437	グレイ視野撮像装置及び方法	2023年 2月 9日
特表 2023-505152	簡略化モデルを用いるトモグラフィ依拠半導体計測	2023年 2月 8日
特表 2023-505162	低反射率背面照明イメージセンサ	2023年 2月 8日
特表 2023-504001	計測ランドスケープに基づく計測最適化のためのシステムおよび方法	2023年 2月 1日
特表 2023-504144	確率的ドメイン知識に基づく計測レシピ最適化及び物理的実現	2023年 2月 1日
特表 2023-503314	レーザ周波数シフトによる高速位相シフト干渉法	2023年 1月27日
特開 2023-14136	多入射角半導体計測システム及び方法	2023年 1月26日
特表 2023-502949	オーバレイ計量計測に基づく傾斜計算システム及び方法	2023年 1月26日
特開 2023-2813	非線形光学結晶の不活性化方法	2023年 1月10日
特開 2023-1191	透過型小角Ｘ線散乱計量システム	2023年 1月 4日
特開 2023-1192	透過型小角Ｘ線散乱計量システム	2023年 1月 4日

104 件中 91-104 件を表示

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2023-21259 2023-21117 2023-21158 2023-505437 2023-505152 2023-505162 2023-504001 2023-504144 2023-503314 2023-14136 2023-502949 2023-2813 2023-1191 2023-1192

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