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ケーエルエー−テンカー コーポレイション
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第332位 104件
（
2022年：第296位 118件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第345位 92件
（2022年：第335位 90件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ケーエルエー−テンカー コーポレイションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2023-21259 | 高効率レーザー維持プラズマシステム | 2023年 2月10日 | |
| 特開 2023-21117 | 広帯域レーザ産生プラズマイルミネータを有するＸ線計量システム及び方法 | 2023年 2月 9日 | |
| 特開 2023-21158 | モデルベースの限界寸法測定の方法およびシステム | 2023年 2月 9日 | |
| 特表 2023-505437 | グレイ視野撮像装置及び方法 | 2023年 2月 9日 | |
| 特表 2023-505152 | 簡略化モデルを用いるトモグラフィ依拠半導体計測 | 2023年 2月 8日 | |
| 特表 2023-505162 | 低反射率背面照明イメージセンサ | 2023年 2月 8日 | |
| 特表 2023-504001 | 計測ランドスケープに基づく計測最適化のためのシステムおよび方法 | 2023年 2月 1日 | |
| 特表 2023-504144 | 確率的ドメイン知識に基づく計測レシピ最適化及び物理的実現 | 2023年 2月 1日 | |
| 特表 2023-503314 | レーザ周波数シフトによる高速位相シフト干渉法 | 2023年 1月27日 | |
| 特開 2023-14136 | 多入射角半導体計測システム及び方法 | 2023年 1月26日 | |
| 特表 2023-502949 | オーバレイ計量計測に基づく傾斜計算システム及び方法 | 2023年 1月26日 | |
| 特開 2023-2813 | 非線形光学結晶の不活性化方法 | 2023年 1月10日 | |
| 特開 2023-1191 | 透過型小角Ｘ線散乱計量システム | 2023年 1月 4日 | |
| 特開 2023-1192 | 透過型小角Ｘ線散乱計量システム | 2023年 1月 4日 |
104 件中 91-104 件を表示
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2023-21259 2023-21117 2023-21158 2023-505437 2023-505152 2023-505162 2023-504001 2023-504144 2023-503314 2023-14136 2023-502949 2023-2813 2023-1191 2023-1192
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