ホーム > 特許ランキング > ケーエルエー−テンカー コーポレイション > 2023年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2023年 出願公開件数ランキング 第332位 104件
(2022年:第296位 118件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第345位 92件
(2022年:第335位 90件)
(ランキング更新日:2025年6月10日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特表 2023-540530 | 画像ハッシュを用いた教師なしパターン同義物検出 | 2023年 9月25日 | |
特表 2023-540297 | 原位置ステージ補正のためのアクティブレチクルキャリア | 2023年 9月22日 | |
特表 2023-539816 | アレイを設計するための走査電子顕微鏡画像アンカーリング | 2023年 9月20日 | |
特表 2023-539568 | リピータ欠陥検出のための教師なし学習 | 2023年 9月15日 | |
特表 2023-539612 | 放射劣化からの光学部品の光学材料の保護 | 2023年 9月15日 | |
特表 2023-539636 | 真空システム用の冷却剤微小漏出センサ | 2023年 9月15日 | |
特表 2023-539235 | 転移学習を用いるウェハレベルシグネチャグループ化 | 2023年 9月13日 | |
特開 2023-126665 | ターゲット | 2023年 9月 7日 | |
特表 2023-536564 | 深層学習を用いた三次元構造の検査または計測 | 2023年 8月28日 | |
特表 2023-536597 | ノイズのあるパターン化フィーチャの検査 | 2023年 8月28日 | |
特開 2023-118869 | 紫外及び可視波長のプラズモニックフォトカソードエミッタ | 2023年 8月25日 | |
特開 2023-118899 | オーバレイ計測システム及び方法 | 2023年 8月25日 | |
特開 2023-118958 | 空間的に変化する偏光回転子および偏光子を用いた高感度粒子検出 | 2023年 8月25日 | |
特表 2023-535693 | フリンジモアレと光モアレ効果を使用した位置ずれ計測 | 2023年 8月21日 | |
特開 2023-113970 | 電子ビームエミッタ装置 | 2023年 8月16日 |
104 件中 31-45 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2023-540530 2023-540297 2023-539816 2023-539568 2023-539612 2023-539636 2023-539235 2023-126665 2023-536564 2023-536597 2023-118869 2023-118899 2023-118958 2023-535693 2023-113970
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。
6月12日(木) -
6月12日(木) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月16日(月) - 東京 大田
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月19日(木) - 大阪 大阪市
6月19日(木) -
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月20日(金) - 愛知 名古屋市
6月16日(月) - 東京 大田
東京都江戸川区西葛西3-13-2-501 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒152-0034 東京都目黒区緑が丘一丁目16番7号 意匠 商標 外国商標 訴訟 コンサルティング
〒460-0003 愛知県名古屋市中区錦1-11-11 名古屋インターシティ16F 〒104-0061 東京都中央区銀座8-17-5 THE HUB 銀座OCT 407号室(東京支店) 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング